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    因为目前的测试方式都不足以代表完整LED芯片的使用寿命和需花费冗长的时间。因此，有其他的团队开始研究加速寿命测试方式和寿命推估模型，而Highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST)是目前有可能拿来做加速寿命推估的测试方法。

    HAST 是由固态技术协会(JEDEC)所制定的测试方法，主要是用来进行半导体封装的可靠度测试，可测试封装体老化的程度以及水气入侵的速度。主要的测试条件有两个110℃ -85% RH和130℃-85% RH。在S.I.Chan的研究中，他们分析高功率LED芯片在经过HAST和一般环境(25℃-50%RH)测试后，芯片特性劣化的机制是否相同。在一般的测试条件下经过2900小时的测试后，LED芯片会出现光通量衰减、光谱特性改变、封装材料变色和气泡产生以及热阻上升等现象。而在HAST的测试中可观察得到更为显著的现象，且无其他异常现象发生，这表示了HAST确实有加速劣化机制的效果。

    在图3中，可以看到LED芯片的光通量在HAST测试中，下降的速度比一般情况下要来的快。但只靠HAST的测试是无法推测出灯具的使用寿命，还需要一个寿命推估模型。W.D. van Rriel提到利用Monte Carlos approach和hybrid approach using BBN and Markov Chain methodology这两种方法来推估灯具系统的寿命，但是推估过程容易因为LED灯具系统若使用较多元件而变得相当复杂。